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X-ray Characterization of Physical-Vapor-transport-grown Bulk AlN Single Crystals.

Thomas Wicht, Stephan Mueller,Roland Weingaertner,Boris Epelbaum,Sven Besendoerfer, Ulrich Blaess,Matthias Weisser,Tobias Unruh,Elke Meissner

Journal of Applied Crystallography（2020）

引用 5|浏览21

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关键词

aluminium nitride,X-ray topography,X-ray diffraction,dislocations

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