基于相位恢复的光学元件面形检测技术研究

利用标量衍射的角谱理论，研究了基于两幅光强分布的相位恢复算法，并将此算法应用到光波的波前及光学元件面形的检测中。实验研究了球面光波波前的相位恢复及面形检测，给出了恢复波前与理想波前之间的偏差，采用求Zernike系数的广义逆矩阵的方法，用程序实现了光学元件面形的Zernike拟合。