熔态GeO2结构的XAFS研究

GeO2是光电领域内的重要材料,也是玻璃形成体基础材料之一.晶体GeO2有六方对称的石英结构(q-GeO2)和四面体对称的金红石结构(r-GeO2).前者是重要的压电和光学材料,后者是半导体Ge的良好封装材料.两种晶态GeO2的熔点不同:q-GeO2的熔点为1115℃,而r-GeO2的熔点为1086℃.本工作解决了高温氧化物熔体XAFS实验中的困难,尝试了高温熔体XAFS实验的一种新的实验方法,采集了两种晶体形态GeO2熔化后不同温度的XAFS谱,并对照晶体和非晶体的室温XAFS谱,探讨了不同结构状态的熔体不同温度下的结构及其关联,特别是两种熔点之间的熔体结构状态.