Ultra Low-k 膜(k=2.0)及び選択的バリア層CuSiNを適用した32nm世代向けCu配線技術裕美 林, 一道 津村,美代子 島田,桂 渡邉,秀史 宮島,孝公 臼井,英毅 柴田mag(2007)引用 23|浏览5暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要