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The First Investigation of Switching Lifetime on Parallel-Connected GaN Power Devices
Yifei Huang,Qimeng Jiang,Sen Huang,Xinyue Dai,Xinhua Wang,Xinyu Liu
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
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In-Situ Extraction of Time-Resolved $e_{\text{oss}}$ on GaN Power Device Based on a Modified Hard Switching Platform
Yifei Huang,Qimeng Jiang,Sen Huang,Yulian Yin,Xi Tang,Xinhua Wang,Xinyu Liu
2024 36TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON POWER SEMICONDUCTOR DEVICES AND IC S, ISPSD 2024pp.259-262, (2024)
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