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阻变存储器
存储阵列
可靠性
三维存储技术
"串扰"现象
标准CMOS工艺
CMOS 器件
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ADVANCED INTELLIGENT SYSTEMSno. 1 (2024)
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 1 (2024): 107-113
Xu Zheng, Lizhou Wu,Yuanlu Xie,Jinru Lai,Wenxuan Sun,Jie Yu,Danian Dong,Zhaoan Yu,Xiaoyong Xue,Bing Chen, Yan Yang,Xiaoxin Xu,
ADVANCED ELECTRONIC MATERIALSno. 5 (2024): n/a-n/a
ADVANCED INTELLIGENT SYSTEMS (2024)
3D Integration of Resistive Switching Memorypp.61-95, (2023)
Yi Li,Songqi Wang,Yaping Zhao,Shaocong Wang,Woyu Zhang, Yangu He,Ning Lin,Binbin Cui,Xi Chen, Shiming Zhang,Hao Jiang,Peng Lin,
CoRR (2023)
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Xu Zheng, Lizhou Wu,Danian Dong,Jie Yu,Jinru Lai, Wunxuan Sun,Xiaoyong Xue,Bing Chen,Wan Pang,Xiaoxin Xu
IEEE Electron Device Lettersno. 6 (2023): 919-922
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
Nature Communicationsno. 1 (2023): 1-11
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