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2024 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE)pp.75-77, (2024)
You-Chen Weng, Chin-Yi Yang,Tsung-Ying Yang,Chin-Han Chung, Tsung-Han Chiang, Fu-Chin Tung, Shih-Hsiang Lai,Hung-Wei Yu,Edward Yi Chang
2024 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE)pp.78-80, (2024)
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 6 (2024): 3603-3608
2024 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE)pp.68-71, (2024)
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 9 (2024): 5788-5791
2024 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics (ICSE)pp.64-67, (2024)
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 9 (2023): 4584-4590
2023 21st International Workshop on Junction Technology (IWJT)pp.1-4, (2023)
Microelectronics Reliability (2023)
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