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论文共 22 篇作者统计合作学者相似作者

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Improved Resolution in Advanced Packaging Metrology Through Advanced Nano-Focus X-Ray Sources
Till Dreier, Daniel Nilsson,Julius Hållstedt, Shichao Hu
2024 25th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT)pp.1-3, (2024)
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ForMAX: Multiscale Structural Characterization of Fibrous Materials
K. Nygard, S. A. McDonald, J. B. Gonzalez, V. Haghighat,C. Appel,E. Larsson, R. Ghanbari, M. Viljanen, J. Silva, S. Malki, Y. Li, V. Silva,C. Weninger, F. Engelmann, T. Jeppsson, G. Felcsuti, T. Rosen, K. Gordeyeva, L. D. Soderberg, H. Dierks, Y. Zhang,Z. Yao, R. Yang,E. M. Asimakopoulou, J. K. Rogalinski,J. Wallentin,P. Villanueva-Perez,R. Kruger,T. Dreier,M. Bech,M. Liebi, M. Bek, R. Kadar, A. E. Terry, H. Tarawneh,P. Ilinski, J. Malmqvist,Y. Cerenius
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION (2024): 363-377
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In-line and At-Line Battery CT Enabled by MetalJet Sources
Till Dreier, Daniel Nilsson,Emil Espes
e-Journal of Nondestructive Testingno. 3 (2024)
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Laboratory X-Ray Nano-Computed Tomography for Biomedical Research
Till Dreier, Robin Krüger, Gustaf Bernström,Karin Tran-Lundmark,Isabel Gonçalves,Martin Bech
Journal of Instrumentationno. 10 (2024)
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Optimization of Phase Contrast Imaging with a Nano-Focus X-Ray Tube
Hanna Dierks,Till Dreier, Robin Krueger,Martin Bech,Jesper Wallentin
Applied opticsno. 20 (2023): 5502-5502
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Optimization of phase contrast imaging with a nano-focus x-ray tube
Hanna Dierks,Till Dreier, Robin Krüger,Martin Bech,Jesper Wallentin
Applied opticsno. 20 (2023): 5502-5507
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