基本信息
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职业迁徙
个人简介
I am a postdoctoral researcher at Łukasiewicz Research Network - Institute of Microelectronic and Photonics with 10+ years’ experience in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). Currently, I’m using the CAMECA SC Ultra tool with a depth resolution below 1nm. I specialize in the analysis of ultra-thin and 2D materials and measurements of full device structures.
研究兴趣
论文共 84 篇作者统计合作学者相似作者
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时间
引用量
主题
期刊级别
合作者
合作机构
Optics Expressno. 3 (2024): 3585-3585
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING (2024)
MEASUREMENT (2024)
Carbon (2024): 119337-119337
Crystal Growth & Designno. 10 (2024): 4057-4064
NATURE COMMUNICATIONSno. 1 (2024)
APPLIED SURFACE SCIENCE (2024)
Scripta Materialia (2024): 115987-115987
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作者统计
#Papers: 85
#Citation: 665
H-Index: 14
G-Index: 22
Sociability: 6
Diversity: 3
Activity: 84
合作学者
合作机构
D-Core
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- 学生
- 导师
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