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Neutron-induced Effects on a Commercial GaN High Electron Mobility Transistor
Alexis Cristiano Vilas Boas,Saulo Gabriel Alberton, Paulo Roberto Garcia,Nilberto H. Medina, Vitor Angelo P. Aguiar, Marco Antonio A. Melo,Roberto Baginski B. Santos,Renato C. Giacomini, Tassio Cavalcante,Luis Eduardo Seixas Jr,Saulo Finco, Francisco Rogelio Palomo Pinto,Marcilei Guazzelli
2024 38TH SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, SBMICRO 2024 (2024)
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Heavy Ion-Induced Faults on Programmable UART Controllers Embedded into SRAM-Based FPGA
Victor O. Costa,Fabio Benevenuti, Renan Menezes, Lidia Shibuya Sato, Luis Loures,Fernanda Lima Kastensmidt,Nemitala Added,Saulo G. Alberton,Vitor A. P. Aguiar,Nilberto H. Medina
Latin American Test Symposiumpp.1-6, (2024)
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Single-Event Effects Induced by Monoenergetic Fast Neutrons in Silicon Power UMOSFETs
Saulo Gabriel Alberton, Alexis C V Bôas,Marcilei A Guazzelli,Vitor A P Aguiar, Nemitala Added,Claudio A Federico, Tássio C Cavalcante, Evaldo C F Pereira Júnior, Rafael G Vaz,Odair L Goncalez, Jeffery Wyss,Alessandro Paccagnella,Nilberto H Medina
crossref（2024）
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