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X-ray magnetic circular dichroism and hard x-ray photoelectron spectroscopy of a perpendicularly magnetized D0<sub>22</sub>-type Mn<sub>72</sub>Ge<sub>28</sub> thin film
J. Kim, M. Mizuguchi,N. Inami, T. Ueno, S. Ueda, K. Takanashi
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials (2017)
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X-ray magnetic circular dichroism and hard x-ray photoelectron spectroscopy of a perpendicularly magnetized D0 22 -type Mn 72 Ge 28 thin film
J. Kim, M. Mizuguchi,N. Inami, T. Ueno, Shigenori Ueda, K. Takanashi
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials (2017)
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Exchange bias induced at a Co2FeAl0.5Si0.5/Cr interface
C N T Yu,A J Vick,N Inami,K Ono,W Frost, A Hirohata
Journal of Physics D: Applied Physicsno. 12 (2017)
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