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Development of a Cryogenic X-Ray Detector and an Application for Kaon Mass Measurement
Kevin Phelan,Daniele Tortorella,Ken Suzuki,Johann Zmeskal,Matthias Buehler, Theo
Proceedings of The European Physical Society Conference on High Energy Physics — PoS(EPS-HEP2015) (2016)
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Compositional Analysis by a Superconductor-Based
R. Cristiano,A. Casaburi, C. Santagata,K. Phelan,M. Buhler,J. Höhne
semanticscholar（2007）
引用23浏览0引用
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Microcalorimeter Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy in Routine Semiconductor Failure Analysis
B. Simmnacher,R. Weiland,E. Langer,M. Bühler,J. Höhne,C. Hollerith
International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2002 Conference Proceedings from the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2002)
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