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Simulation of Charge Stability Diagrams for Automated Tuning Solutions (Simcats)
Fabian Hader, Sarah Fleitmann,Jan Vogelbruch,Lotte Geck,Stefan van Waasen
IEEE Transactions on Quantum Engineeringpp.1-16, (2024)
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Qubit Gate Quality Loss Through Circuit Parasitics and Noise
Lotte Geck,Stefan van Waasen
SMACD / PRIME 2021; International Conference on SMACD and 16th Conference on PRIMEpp.1-5, (2021)
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#Papers: 8

#Citation: 150

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