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An Advanced Smart Counting Mode for Pixelated Direct Electron Detectors Based on Semiconductors
Eckert Björn,Aschauer Stefan,Huth Martin, Majewski Petra,Soltau Heike,Strüder Lothar
Microscopy and Microanalysisno. Supplement_1 (2024)
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4D STEM and EELS Acquired Simultaneously with a Fast Pixelated Direct Detector with Center Hole
Huth Martin, Kroner Valentin, El Imari Yassine,Aschauer Stefan,Sagawa Ryusuke,Hashiguchi Hiroki, Nakamura Akiho,Strüder Lothar,Soltau Heike
Microscopy and Microanalysisno. Supplement_1 (2024)
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4D STEM in SEM with a Fast Pixelated Direct Detector
Huth Martin, Eckert Björn, Majewski Petra,Aschauer Stefan,Strüder Lothar,Soltau Heike
Microscopy and Microanalysisno. Supplement_1 (2024)
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Optimized Ultra-Fast Low Dose Electron Detection
Maximilian Schmid, Erdogan Celik, Sepideh Mazloomzadeh,Stefan Aschauer,Heike Soltau
Microscopy and microanalysisno. S1 (2022): 2198-2199
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