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Oxygen-related Defects in 4H-Sic from First Principles
Sosuke Iwamoto,Takayoshi Shimura,Heiji Watanabe,Takuma Kobayashi
APPLIED PHYSICS EXPRESSno. 5 (2024)
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Differences Between Polar-Face and Non-Polar Face 4H-Sic/sio<sub>2 </sub>interfaces Revealed by Magnetic Resonance Spectroscopy
Reika Kondo, Hualing Zeng, Mitsuru Sometani, Hirohisa Hirai,Heiji Watanabe, T. Umeda
Defect and diffusion forum/Diffusion and defect data, solid state data Part A, Defect and diffusion forum (2024): 99-103
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Impact of Sn incorporation on sputter epitaxy of GeSn
Nobuyuki Tanaka,Mizuki Kuniyoshi, Kazuya Abe, Masaki Hoshihara,Takuma Kobayashi,Takayoshi Shimura,Heiji Watanabe
APPLIED PHYSICS EXPRESSno. 9 (2023)
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