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Characterizing and Modelling of the BTI Reliability in IGZO-TFT using Light-assisted I-V Spectroscopy
Z. Wu,A. Chasin, J. Franco,S. Subhechha,H. Dekkers, Y. V. Bhuvaneshwari, A. Belmonte,N. Rassoul,M. J. van Setten, V. Afanas'ev,R. Delhougne,B. Kaczer,G. S. Kar
2022 INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING, IEDMpp.30.1.1-30.1.4, (2022)
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