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H. Mertens,R. Ritzenthaler,A. Hikavyy,M. S. Kim,Z. Tao,K. Wostyn,T. Schram,E. Kunnen,L. -A. Ragnarsson,H. Dekkers,T. Hopf,K. Devriendt,D. Tsvetanova,S. A. Chew,Y. Kikuchi,E. Van Besien,E. Rosseel,G. Mannaert,A. De Keersgieter,A. Chasin,S. Kubicek,A. Dangol,S. Demuynck,K. Barla,D. Mocuta,N. Horiguchi
Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society CD-ROM)no. 26 (2017): 1252-1252
2017 IEEE SOI-3D-SUBTHRESHOLD MICROELECTRONICS TECHNOLOGY UNIFIED CONFERENCE (S3S) (2017)
IEEE Conference Proceedings (2016): 4
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S. Demuynck, M. Mao,E. Kunnen,J. Versluijs, K. Croes, C. Wu, M. Schaekers, A. Peter, T. Kauerauf, L. Teugels, J. Bommels
Boon Teik Chan,E. Kunnen, Matthias Uhlig,Jean‐François de Marneffe,Kaidong Xu,Werner Boullart, B. Rau,Jef Poortmans
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