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Journal of micro-nanopatterning, materials, and metrologyno. 04 (2023)
G. Bourgeois,V. Meli, R. Antonelli,C. Socquet-Clerc,T. Magis,F. Laulagnet,B. Hemard, M. Bernard, L. Fellouh, P. Dezest, J. Krawczyk, S. Dominguez, F. Baudin,J. Garrione,C. Pellissier,J. -A. Dallery,N. Castellani,M. -C. Cyrille,C. Charpin,F. Andrieu, G. Navarro
2023 7TH IEEE ELECTRON DEVICES TECHNOLOGY & MANUFACTURING CONFERENCE, EDTM (2023)
L. Gaben,V. Balan,C. Euvrard,S. Pauliac,J.-A. Dallery,J. Bustos, R. Dechanoz,B. Hemard, L. Koscianski, X. Bossy,C. Arvet,C. Vizioz,S. Barnola,C. Perrot,J. Sturm,Y. Exbrayat,V. Loup,P. Besson, B. Perrin,B. Previtali,M.-P. Samson,S. Barraud,S. Monfray,F. Boeuf,T. Skotnicki,F. Balestra,M. Vinet
Extended Abstracts of the 2016 International Conference on Solid State Devices and Materials (2016)
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#Papers: 5
#Citation: 1
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Diversity: 1
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