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在清言上使用

Structural and Morphological Characterization of Iridium and Ir/Au Films for Transition Edge Sensors

Edvige Celasco,L. Ferrari Barusso, M. De Gerone, G. Gallucci,Daniele Grosso,P. Manfrinetti, K. Niazi,Luca Repetto, F. Gatti

Journal of low temperature physics(2024)

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