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Microstructure Control and Property Switching in Stress-Free Van Der Waals Epitaxial VO2 Films on Mica

Erik Ekstrom,Simon Hurand,Arnaud le Febvrier,Anna Elsukova,Per O. A. Persson,Biplab Paul,Fredrik Eriksson,Geetu Sharma,Oleksandr Voznyy,Davide G. Sangiovanni,Ganpati Ramanath,Per Eklund

Materials & design（2023）

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关键词
vad der Waals epitaxy,Thin films,X-ray diffraction,Electronic properties
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