ПРОГНОЗНЫЙ АНАЛИЗ ДОМИНИРУЮЩИХ МЕХАНИЗМОВ ОТКАЗОВ, ТИПОВЫХ И ПРЕДЕЛЬНЫХ УРОВНЕЙ РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ ПЕРСПЕКТИВНОЙ НАНОМЕТРОВОЙ КМОП ЭКБ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

А.Ю. Никифоров,В.А. Телец,Д.В. Бойченко,А.А. Смолин,А.В. Уланова, И.И. Швецов-Шиловский, А.В. Сагоян,В.В. Елесин

NANOINDUSTRY Russia（2020）

引用 0|浏览1

暂无评分

摘要

Проведен анализ основных тенденций и особенностей проявления доминирующих радиационных эффектов в ЭКБ на основе КМОП-технологий при переходе к проектным нормам 28 нм и менее. Рассматривается роль новых материалов и геометрии транзистора при переходе к технологиям FDSOI и FinFET.

查看译文

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要