磁敏感加权成像联合弥散加权成像诊断脑弥漫性轴索损伤的应用

目的 探讨磁敏感加权成像(SWI)联合弥散加权成像(DWI)诊断脑弥漫性轴索损伤(DAI)的应用价值.方法 选取2018年2月至2020年2月本院收治的60例DAI患者,所有患者入院时均行MRI检查,比较MRI检查中T1WI、T2WI、FLAIR、SWI、DWI各序列检出的病灶率,并分析各序列病灶分布特点及信号特征.结果 DAI病灶的分布区域主要是基底节、胼胝体、丘脑、深部白质区、脑干、皮髓质交界区;SWI、DWI对各分布区域病灶的检出率均高于T1WI、T2WI、FLAIR(P<0.05);SWI对微出血性病灶的检出数高于DWI、FLAIR(P<0.05);DWI对水肿性病灶的检出数高于FLAIR、SWI(P<0.05).结论 SWI、DWI对DAI病灶检测的敏感性均优于T1WI、T2WI、FLAIR,两者联用可进一步提升DAI检出率,但对于特殊病例还需结合常规MRI进行鉴别诊断.