多通道固态存储器测试系统设计与研究
Electronic Measurement Technology（2021）
摘要
针对现有存储器测试系统测试通道少、被测存储介质种类单一和自动化程度低的问题,设计了一种通用自动化存储器测试系统.系统由上位机、硬件测试电路和千兆以太网组成.上位机在VS2015环境下开发,对系统下发测试指令并显示测试结果,硬件测试电路完成对存储介质数据的读取及回传,千兆以太网实现两者数据的高速交换.本系统可以对多路SATA接口和ONFI接口的存储器进行性能测试,从而提高了存储器的测试效率,降低了测试成本.多次实验结果表明,该系统具有良好的环境适应性和可扩展性,在航天领域有较高的工程应用价值.
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