中子活化法测量氙在塑料闪烁体表面吸附量的研究

采用叠层式β‐γ符合探测器测量弱放射性氙同位素时，由于氙在β探测器（BC404）内壁吸附而增大了其本底，影响后续弱样品的测量。利用中子活化分析法在痕量元素分析中的高灵敏度、无损等特点，采用14.1 MeV中子辐照吸附有氙的塑料闪烁体（BC404）样品，通过MCNP模拟计算和活化产物133 Xe和135 Xe特征γ射线的测量，获得了氙在塑料闪烁体表面的吸附量。结果表明：中子活化分析法能准确测量氙在塑料闪烁体表面的吸附量，其测量结果的相对合成标准不确定度约为22％。根据不确定度的来源对提高测量精度提出了具体建议。