中子活化法测量氙在塑料闪烁体表面吸附量的研究
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-beam Interactions With Materials and Atoms(2016)
摘要
采用叠层式β‐γ符合探测器测量弱放射性氙同位素时,由于氙在β探测器(BC404)内壁吸附而增大了其本底,影响后续弱样品的测量。利用中子活化分析法在痕量元素分析中的高灵敏度、无损等特点,采用14.1 MeV中子辐照吸附有氙的塑料闪烁体(BC404)样品,通过MCNP模拟计算和活化产物133 Xe和135 Xe特征γ射线的测量,获得了氙在塑料闪烁体表面的吸附量。结果表明:中子活化分析法能准确测量氙在塑料闪烁体表面的吸附量,其测量结果的相对合成标准不确定度约为22%。根据不确定度的来源对提高测量精度提出了具体建议。
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关键词
plastic scintillator,xenon
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