恒速压汞技术在低渗透储层喉道分布的几何学描述中的应用
Fujian Chemical Industry(2015)
摘要
低渗透储层孔隙半径特征随渗透率的变化基本保持不变,微观孔隙结构的差异主要体现在喉道的大小和分布上,喉道是影响储层渗流能力和开发效果的关键因素,因此,对喉道分布的研究关系到储层开发效果评价和开发潜力分析,针对低渗透储层注水效果差、产能低的实际情况,开展了微观孔隙结构特征研究.笔者利用恒速压汞技术在喉道累积分布曲线的基础上,拟合出了喉道分布的相关理论公式,并对一些孔隙结构特征参数进行了理论计算和分析[1].
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