FPGA与单片机在RLC测量系统设计中的应用
Control and Instruments in Chemical Industry(2011)
摘要
提供了一种采用FPGA和单片机实现自动测量RLC参数的测量系统。系统以C8051F020 MCU单片机作为系统控制器,利用直接数字频率合成(DDFS)技术使用FPGA来产生测试用正弦波,利用电抗元件串联分压原理,实现对电阻、电容、电感的精确测量。本测量系统结构简单,并进行了抗干扰设计,使其具有较好的抗干扰能力,保证系统可靠工作。
更多查看译文
关键词
DDS,resistance capacitance measurement,C8051F020,FPGA
AI 理解论文
溯源树
样例
![](https://originalfileserver.aminer.cn/sys/aminer/pubs/mrt_preview.jpeg)
生成溯源树,研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要