Ka频段相控阵天线单元互耦的研究

由于互耦效应的影响,相控阵天线单元的辐射特性、阻抗特性都将发生变化,输入阻抗的变化会引起辐射单元与馈电网络的不匹配,造成信号功率的损失,严重时会导致相控阵天线扫描时出现"盲点"效应,使得天线不能正常工作。研制出含EBG栅格结构的相控阵天线阵面,测试结果表明采用该结构能够减小相控阵天线单元间的互耦。