電場サイクル強誘電体Hf_0.5Zr_0.5O_2薄膜における破壊機構への深い洞察:TDDBキャラクタリゼーションと第一原理計算【JST・京大機械翻訳】Wei Wei,Zhang Weiqiang.,Wang Fei,Xiaolei Ma,Qianwen Wang,Sang Pengpeng,Zhan Xuepeng,Yuan Li,Tai Xiang Lu, Qi Luo,Lv Hangbing,Jiezhi ChenIEEE Conference Proceedings(2020)引用 0|浏览0暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要