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Publisher's Note: “Hard x-ray photoemission study on strain effect in LaNiO3 thin films” [Appl. Phys Lett. 118, 161601 (2021)]

K. Yamagami,K. Ikeda,A. Hariki,Y. Zhang,A. Yasui,Y. Takagi, Y. Hotta,T. Katase, T. Kamiya,H. Wadati

Applied Physics Letters（2021）

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