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阻变存储器
存储阵列
可靠性
三维存储技术
"串扰"现象
标准CMOS工艺
CMOS 器件
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 1 (2024): 107-113
Woyu Zhang, Zhi Li, Xinyuan Zhang,Fei Wang,Shaocong Wang,Ning Lin,Yi Li, Jun Wang,Jinshan Yue,Chunmeng Dou,Xiaoxin Xu,Zhongrui Wang,
ADVANCED INTELLIGENT SYSTEMS (2024)
ADVANCED INTELLIGENT SYSTEMSno. 1 (2024): n/a-n/a
Jichang Yang,Hegan Chen,Jia Chen,Songqi Wang,Shaocong Wang, Yifei Yu,Xi Chen, Bo Wang, Xinyuan Zhang,Binbin Cui,Yi Li, Ning Lin,
arxiv(2024)
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3D Integration of Resistive Switching Memorypp.61-95, (2023)
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Yi Li,Songqi Wang,Yaping Zhao,Shaocong Wang,Woyu Zhang, Yangu He,Ning Lin,Binbin Cui,Xi Chen, Shiming Zhang,Hao Jiang,Peng Lin,
CoRR (2023)
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Xu Zheng, Lizhou Wu,Danian Dong,Jie Yu,Jinru Lai, Wunxuan Sun,Xiaoyong Xue,Bing Chen,Wan Pang,Xiaoxin Xu
IEEE Electron Device Lettersno. 6 (2023): 919-922
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
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