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Yaobin Feng, Pandeng Xuan,Dean Wu, Bruce Yang, Craig Xu, Neo Liu, Pavel Izikson, Huanian You, Xi-Zhi Yan, Vladimir Markov, Yvon Chai,Chaoyu Chen,
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV (2021): 144-149
Jang-Sun Kim, Jin-Moo Byun,Remco Lancee,Jong-Hyun Hwang,Hyun-Jun Ha, Kwang-Young Hu,Se-Ra Jeon, Won-Jae Jang, Hyung-Sub Son,Vidar van der Meijden,Marc Noot,Bartosz Foltynski,
Proceedings of SPIE (2019)
Junghun Oh, Kwang-Seok Maeng, Jae-Hyung Shin, Won-Woong Choi, Sung-Keun Won, Grouwstra Cedric Desire,Mohamed El Kodadi, Stephan Heil,Vidar van der Meijden,Jong Kyun Hong,Sang-Jin Kim,Oh-Sung Kwon
Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXII (2018): 400-405
Tae-Sun Kim,Young-Sik Park,Yong-Chul Kim,Byoung-Hoon Kim,Ji-Hun Lee, Min-Keun Kwak,Sung-Won Choi,Joon-Soo Park, Hong-Cheon Yang, Philipp Meixner,Dong-jin Lee,Oh-Sung Kwon,
Proceedings of SPIE (2018)
Jonghun Oh, Kwang-Seok Maeng, Jae-Hyung Shin, Won-Woong Choi, Sung-Keun Won, Cedric Grouwstra,Mohamed El Kodadi, Stephan Heil,Vidar van der Meijden,Jong Kyun Hong,Sang-Jin Kim,Oh-Sung Kwon
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